文章目录

1 实验

1.1 实验材料，药品与仪器

1.2 实验方案

2 分析结果与讨论

2.1 载网支持膜的分析检测

    2.1.1 载网支持膜分析

    2.1.2 载网分析

    2.1.3 支持膜分析

2.2 载网膜上含Si杂质的来源分析

    2.2.1 载网支持膜的制备[8-14]

    2.2.2 外源杂质引入原因分析

3 结论

文章摘要:载网支持膜是透射电子显微镜测试的前提与保障,但在透射电子显微镜-能谱测试中发现其存在外源杂质元素污染的情况。对市面上的各类常规载网支持膜进行检测,显示其均含有杂质元素Si。外源杂质元素的存在严重造成了样品透射电子显微镜-能谱数据结果的误差。为防止杂质元素的干扰和混淆,本文分析确认了载网支持膜杂质的来源,是由于制膜过程中未去除含Si助剂的清洗剂成份,而其生成的硅胶SiO₂与Formvar膜生成了氢键结合,吸附于支持膜表面。

文章关键词:

论文作者:沈素丹 郑娜 浦群 张斌 贺静 房尔园 徐丽 

论文分类号: TB302

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文章来源：化学工程与装备 网址: http://hxgcyzb.400nongye.com/lunwen/itemid-112313.shtml

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